特許
J-GLOBAL ID:200903029380782646

シール剤塗布検査方法及びその装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 藤本 博光
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-332482
公開番号(公開出願番号):特開平10-170242
出願日: 1996年12月12日
公開日(公表日): 1998年06月26日
要約:
【要約】【課題】 シール剤の塗布状態を短時間で、しかも被検査部材の種類に関係なく精度の高い検査ができ、設置面積が小さくて済むシール剤塗布検査装置を提供することである。【解決手段】 液晶パネル30の斜め上方位置には、光源20A、20B、20C、20Dが液晶パネル30の周囲に配置されている。この光源20からの光りは、光源調整部21で照射角度、照射強度、照射幅等を調節され、シール剤40塗布部を均一輝度分布となるよう照射される。撮像カメラ10は全塗布部を撮影するよう調整配置されている。
請求項(抜粋):
シール剤の塗布状態を検査するシール剤塗布検査方法において、前記シール剤の塗布領域全体に照射角度、照射強度、照射幅を調整した光を照射し、該光の反射状態を一度に検知することで、前記シール剤の塗布状態の検査を行うシール剤塗布検査方法。
IPC (2件):
G01B 11/24 ,  B05C 5/00 101
FI (2件):
G01B 11/24 K ,  B05C 5/00 101

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