特許

J-GLOBAL ID：200903029388869830

製品の検査方法

発明者： 河合 眞 ,  伊藤 剛
出願人/特許権者： スズキ株式会社
代理人 (1件)： 木村 高久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-331702
公開番号（公開出願番号）：特開平9-171008
出願日： 1995年12月20日
公開日（公表日）： 1997年06月30日
要約：

【要約】【課題】 本発明の課題は、製品の良否を簡易かつ高い確度で判定し得る製品の検査方法を提供することにある。【解決手段】 本発明に関わる検査方法は、被検体から該被検体の周波数特性を内包する応答を取り出す工程と、この工程に次いで被検体から取り出した応答を高速フーリエ変換処理して被検体の周波数特性を得る工程と、この工程に次いで被検体の周波数特性における各ピーク周波数が事前に求めた複数の良品における周波数特性のピーク周波数毎の統計分布内に存在するか否かに基づいて被検体の良否を判定する工程とを含んでいる。

請求項（抜粋）：

被検体から、該被検体の周波数特性を内包する応答を取り出す工程と、この工程に次いで、被検体から取り出した応答を高速フーリエ変換処理して、被検体の周波数特性を得る工程と、この工程に次いで、被検体の周波数特性における各ピーク周波数が、事前に求めた複数の良品における周波数特性のピーク周波数毎の統計分布内に存在するか否かに基づいて被検体の良否を判定する工程と、を含んで成ることを特徴とする製品の検査方法。

IPC (3件)：

G01N 29/12 ,  G01H 13/00 ,  G01H 17/00

FI (3件)：

G01N 29/12 ,  G01H 13/00 ,  G01H 17/00 D