特許

J-GLOBAL ID：200903029435842716

半導体集積回路

発明者： 山本 英尚
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (1件)： 小池 隆彌
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-149108
公開番号（公開出願番号）：特開2000-339190
出願日： 1999年05月28日
公開日（公表日）： 2000年12月08日
要約：

【要約】【課題】 ソフトウェアデバッグに於いて、実時間動作でのデバッグを可能にするとともに、プログラムの変更も不要で、容易に実行可能であるとともに、ハードウェアデバッグにも使用可能なデバッグ手法を提供すること。【解決手段】 トレース情報を記憶させるためのデバッグ専用バッファ106を、半導体集積回路100内に内蔵させる。

請求項（抜粋）：

CPUまたは所定の処理を実行する専用論理回路を内蔵する半導体集積回路に於いて、ソフトウェアデバッグまたはハードウェアデバッグに於いてのみ用いられるデバッグ専用バッファと、上記CPUまたは専用論理回路に於ける処理データの中から、上記デバッグ専用バッファに書き込むべきデータを選択するための書き込みデータ選択情報を、外部より入力させるための入力端子と、該入力端子より入力された上記書き込みデータ選択情報に基づいて、上記デバッグ専用バッファに書き込むデータを選択し、該選択されたデータを上記デバッグ専用バッファに書き込む、データ書き込み制御手段と、上記デバッグ専用バッファに書き込まれたデータを順次外部に出力させるための出力端子とを設けたことを特徴とする半導体集積回路。

IPC (4件)：

G06F 11/28 ,  G06F 11/28 310 ,  G06F 11/22 340 ,  G06F 15/78 510

FI (4件)：

G06F 11/28 L ,  G06F 11/28 310 A ,  G06F 11/22 340 E ,  G06F 15/78 510 K

Fターム (15件)：

5B042GA13 ,  5B042GC05 ,  5B042GC08 ,  5B042HH05 ,  5B042HH30 ,  5B042MA09 ,  5B042MC09 ,  5B048AA13 ,  5B048DD04 ,  5B048DD10 ,  5B048FF01 ,  5B062AA08 ,  5B062EE05 ,  5B062EE09 ,  5B062JJ08