結晶組織を解析する方法

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：中村稔 (外9名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-214139
公開番号（公開出願番号）：特開2003-121394
出願日： 2002年07月23日
公開日（公表日）： 2003年04月23日
要約：

【要約】【課題】本発明は、例えば材料の結晶組織に影響される材料特性に関する情報を提供するために使用される、材料の結晶組織を解析する方法を提供する。【解決手段】多結晶材料の試料の結晶方位を形成するデータから結晶組織を解析する方法は、各結晶の結晶構造に固定された共通の座標系に対して、各結晶について試料における第1の方向の方位を判断する段階を含む。座標系に対して第1の方向と類似の方位を共有するいくつかの結晶が選択され、各々について、座標系に対する試料における第2の方向の方位が判断される。座標系に対して第2の方向と類似の方位を共有するいくつかの結晶が選択され、選択された結晶の試料内の第1及び第2方向に対する方位に対応する結晶組織が判断される及び/又は表現される。

請求項（抜粋）：

多結晶材料の試料における結晶の方位を形成するデータから結晶組織を解析する方法であって、各結晶の結晶構造に固定された共通の座標系に対して、各結晶について、試料における第1の方向の方位を判断する段階と、前記座標系に対する前記第1の方向と類似の方位を共有するいくつかの結晶を選択する段階と、各選択された結晶について、前記座標系に対して前記試料における第2の方向の方位を判断する段階と、前記座標系に対する前記第2の方向と類似の方位を共有するいくつかの結晶を選択する段階と、前記試料内の前記第1及び第2方向に対する前記選択された結晶の方位に対応する結晶組織を判断する及び/又は表現する段階と、を含むことを特徴とする方法。

IPC (3件)：

G01N 23/225 , H01J 37/252 , H01J 37/28

FI (3件)：

G01N 23/225 , H01J 37/252 Z , H01J 37/28 B

Fターム (16件)：

2G001AA03 , 2G001BA07 , 2G001BA15 , 2G001BA18 , 2G001CA03 , 2G001GA06 , 2G001GA08 , 2G001HA07 , 2G001HA13 , 2G001KA08 , 2G001MA05 , 2G001NA17 , 5C033RR02 , 5C033RR06 , 5C033UU05 , 5C033UU06

引用特許：

審査官引用 (3件)

結晶粒三次元表示方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-055430 出願人：川崎製鉄株式会社
特開昭62-255857
特開昭62-255857

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