特許
J-GLOBAL ID：200903029474724828
光パルス試験器
発明者：
,
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉田 精孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-080934
公開番号（公開出願番号）：特開平6-294705
出願日： 1993年04月07日
公開日（公表日）： 1994年10月21日
要約：
【要約】【目的】 光増幅無中継線路に入射する試験信号光の強度変動が小さく、その強度は通信用の信号光強度とほぼ同程度であり、かつダイナミックレンジの大きい光パルス試験器を提供する。【構成】 試験信号光とは異なる波長の信号光cを発生する第2の光源部2を有し、この第2の光源部2で発生した第2の信号光cを第1の光源部1で生成された試験信号光パルスaに光重畳器6で重畳するようにした。これにより試験信号光の強度変動が小さく、その強度は通信用の信号光強度とほぼ同程度で、かつダイナミックレンジの大きい光パルス試験器が実現できる。
請求項（抜粋）：
試験信号光及びローカル信号光の信号光発生手段と、前記試験信号光を所定周期毎にパルス化して試験信号光パルスを生成するとともに、前記試験信号光パルスを被試験光ファイバに送出する光パルス生成手段と、被試験光ファイバから繰り返し戻ってくる反射光及び後方散乱光と前記ローカル信号光とを光学的に合波してビート信号光を得る光合波手段と、このビート信号光を受光して電気信号に変換する光電気変換手段と、この電気信号を加算処理等をする電気信号処理手段と、この電気信号処理した結果に基づいて前記反射光及び後方散乱光の波形を表示する表示手段とを備えた光パルス試験器において、前記試験信号光とは異なる波長の信号光を発生する第2の信号光発生手段を有し、この第2の信号光発生手段で発生した第2の信号光を前記光パルス生成手段で生成された前記試験信号光パルスに重畳する光重畳手段を有することを特徴とする光パルス試験器。
引用特許：
前のページに戻る
