特許
J-GLOBAL ID：200903029484594795

放射線検出器およびその製造方法、放射線CT装置

発明者：
角田 健一

角田 健一 について

, 
松井 進

松井 進 について


出願人/特許権者：
日立金属株式会社

日立金属株式会社 について


公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-038170
公開番号（公開出願番号）：特開2004-003970
出願日： 2003年02月17日
公開日（公表日）： 2004年01月08日
要約：
【課題】放射線検出器に使用されている樹脂は放射線被爆により変質を起こす。変質は、樹脂の光反射率、光透過率の低下である。樹脂の変質は検出器出力電流低下の原因の一つであり、検出器の寿命を左右している。多量の放射線曝射を受けても、放射線検出器の出力電流低下が少ない長寿命の放射線検出器およびCT装置を提供する。【解決手段】シンチレータを覆う光反射材に、ルチル型酸化チタン粉末とポリエステル樹脂を混合、固化したものを用いる。また、シンチレータと半導体光検出素子の接合にポリエステル樹脂を用いる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
シンチレータと半導体光検出素子を積層し、このシンチレータの周囲にその半導体光検出素子に対向している面以外に光反射材を有する放射線検出器であって、光反射材はポリエステル樹脂とルチル型酸化チタン粉末を混合したものであることを特徴とする放射線検出器。
IPC (3件)：
G01T1/20 ,  A61B6/03 ,  H01L27/14
FI (7件)：
G01T1/20 D ,  G01T1/20 B ,  G01T1/20 E ,  G01T1/20 G ,  A61B6/03 320S ,  H01L27/14 D ,  H01L27/14 K
Fターム (22件)：
2G088EE02 ,  2G088FF02 ,  2G088FF04 ,  2G088GG13 ,  2G088GG16 ,  2G088GG19 ,  2G088JJ05 ,  2G088JJ09 ,  2G088JJ13 ,  2G088JJ29 ,  2G088JJ37 ,  4C093AA22 ,  4C093CA41 ,  4C093EB12 ,  4C093EB17 ,  4C093EB20 ,  4M118AA03 ,  4M118AB01 ,  4M118CB11 ,  4M118GA09 ,  4M118GA10 ,  4M118GD15
引用特許：
審査官引用 (3件)

前のページに戻る

TOP

BOTTOM