特許
J-GLOBAL ID:200903029527305393
AE波の計測装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
,
代理人 (1件):
古澤 俊明 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-224124
公開番号(公開出願番号):特開平8-062337
出願日: 1994年08月25日
公開日(公表日): 1996年03月08日
要約:
【要約】【目的】 AE波の間接検知法の特徴を活かしつつ、計測精度を高め、品質の一定した、さらに計測距離の長い場合にも使用できるAE計測ロッドを得ることを目的とする。【構成】 AE計測ロッド20は、管状のウェーブガイド22の内部に、軟化点が少なくとも90°C以上で、1分子中のモノマー率が高く、規則正しい分子構造を有し、かつ分子量が600〜3000の範囲にある石油樹脂、たとえば、芳香族系のモノマーをカチオン共重合させた樹脂をAE発生材としたものである。このAE計測ロッド20が被計測地盤15からの変位に応じて変形すると、多数の微小亀裂が発生する。これら微小亀裂の発生に伴う高脆性樹脂25の破壊音がウェーブガイド22を伝播してAEセンサ10へ送られ、電気信号に変換されて外部のプロセッサーへ出力する。AE発生材25は、品質が一定しているので、常に一定のAE波形を発生し、計測精度にすぐれている。
請求項(抜粋):
管状のウェーブガイド22の内部にAE発生材25を充填して検知ロッド21を構成し、この検知ロッド21の変形に起因する前記AE発生材25の破壊音をAEセンサ10で検出するようにしたAE計測ロッド20において、前記AE発生材25は、軟化点が少なくとも90°C以上で、1分子中のモノマー率が高く、規則正しい分子構造を有し、かつ分子量が600〜3000の範囲にある石油樹脂からなることを特徴とするAE波の計測装置。
IPC (5件):
G01V 1/00
, E02D 1/00
, G01H 11/08
, G01N 29/14
, G01B 17/00
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