特許
J-GLOBAL ID：200903029533529040
分光装置の較正
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
湯浅 恭三 (外6名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-508979
公開番号（公開出願番号）：特表平8-505221
出願日： 1992年10月07日
公開日（公表日）： 1996年06月04日
要約：
【要約】較正された分光計が、特定のサンプルに関してこの分光計によって測定されたスペクトル応答に基づき、サンプルの物理的又は化学的性質を間接的に決定することができる。この発明は、第1の分光計又はそれ自身を利用して第2の分光計を較正又は再較正する方法に関する。この較正では、第1及び第2の装置の両方から得られたスペクトル・データのユニークな選択及び操作を用いる。再較正の場合には、同じ第1の装置から得られたスペクトル・データすなわち再較正の必要性が生じる前後の両方で得られたスペクトル・データのユニークな選択及び操作を用いる。第1及び第2の装置の、又は、較正の必要が生じる前後に第1の装置の、それぞれの応答を修正するのではなく、本発明では、第2のすなわち再較正された装置の較正方程式を修正して、第1の装置のすなわち較正を行う前の第1の装置によって得られた結果と一貫する結果を生じる。較正方程式とは、種々の波長での特定のサンプルのスペクトル・データを化学的又は物理的性質に対する計算された値に変換する方程式である。一般的に、このような方程式の形式は、吸光度又は各サンプルに対して第1及び第2の装置によって測定された吸光度の数学的変換の線形結合である。驚くべきことに、そして統計的に確認されているのであるが、較正又は再較正された装置の精度は維持され、また、ある場合には、改善される。
請求項（抜粋）：
較正方程式1を有する第1の装置を用いることによって、第2の装置を、該第2の装置のための較正方程式2における定数を決定することによって較正する方法において、 (a)較正セットの各メンバーに対応する各従属変数1を示す値、装置1によって測定された前記較正セットの各メンバーに対するスペクトル・データ1に基づいて、較正方程式1から決定するステップと、 (b)前記較正方程式2における定数2を、(1)較正方程式2に基づく前記較正セットの各メンバーに対する前記従属変数2のそれぞれを示す前記値と、前記メンバーのそれぞれに対応するデータ2と、の絶対差(absolute difference)と、(2)較正方程式1に基づく前記メンバーのそれぞれに対して計算された従属変数1の対応する値と、前記メンバーのそれぞれに対応するデータ1と、の絶対差と、の和が実質的に最小になるように決定するステップと、を任意の順序で含むことを特徴とする方法。
IPC (2件)：
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