特許
J-GLOBAL ID：200903029555080780
ソフトウェア試験及び開発支援装置並びに当該装置用プログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
吉竹 英俊
, 有田 貴弘
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2008-129037
公開番号（公開出願番号）：特開2009-277110
出願日： 2008年05月16日
公開日（公表日）： 2009年11月26日
要約：
【課題】試験工程の効率化のため、試験項目の定義及び試験の優先順位の決定に設計モデル及びソースコード等の試験実施前に入手可能な情報を利用することはできるが、試験を実施しながらその結果を効率良く試験項目及び試験優先順位の決定にフィードバックすることはできなかった。【解決手段】不具合関連マップ分析装置108は、開発成果物の異なる2箇所又はそれ以上の箇所が同時に不具合を含んでいる確率の推定値に相当する不具合関連マップを生成し、不具合箇所推定装置500は、不具合関連マップを利用して、試験を実施して得られた情報を元に不具合が存在する可能性が大きいと判断される欠陥候補関連情報を特定し表示する。利用者はこの表示を基に、不具合が発見される可能性の大きい箇所から優先的に試験を実施する様に計画を変更する。【選択図】図5
請求項（抜粋）：
ソフトウェア開発における試験の計画及び実施に関する情報の管理を行う装置であって、
ソースコードを第1開発成果物として記録するソースコード記憶装置と、
開発するソフトウェアの試験定義を第2開発成果物として記憶する試験定義記憶装置と、
前記開発するソフトウェアの試験結果を第3開発成果物として記憶する試験結果記憶装置と、
前記開発するソフトウェアの不具合箇所を表した不具合情報を第4開発成果物として記録する不具合情報記憶装置と、
少なくとも前記第1乃至第4開発成果物の間にある関連情報を開発成果物関連情報として記録する開発成果物関連情報記憶装置と、
少なくとも前記第1乃至第4開発成果物の内の開発成果物の二つの部分集合に対し、一方に不具合となる部分が含まれているとわかった条件で、他方に不具合が含まれている期待値を表す不具合関連マップを記憶する不具合関連マップ記憶装置と、
前記第1乃至第4開発成果物の各々、前記開発成果物関連情報及び前記不具合関連マップの各データの管理を行うデータ管理サーバと、
入力された試験結果の範囲の不具合及び当該不具合から前記開発成果物関連情報を辿ることで得られる開発成果物を、前記データ管理サーバを介して、該当する記憶装置からそれぞれ収集した上で同時不具合関連事象抽出を実行し、当該同時不具合関連事象抽出の実行を少なくとも1回行うことで変換前の不具合関連マップを計算する不具合関連マップ分析装置と、
前記変換前の不具合関連マップとその関連データとをまとめて一定のフォーマットに変換して得られる前記不具合関連マップを、前記データ管理サーバを介して、前記不具合関連マップ記憶装置に保存する不具合関連マップ生成装置とを有することを特徴とする、
ソフトウェア試験及び開発支援装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06F11/28 340A
, G06F17/60 132
