特許
J-GLOBAL ID:200903029564250728

複数の量子型センサーを利用した日射計、当該日射計を用いた日射強度の算出方法、並びに当該算出方法を実行するためのプログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 稲葉 良幸 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2002-054627
公開番号(公開出願番号):特開2003-254823
出願日: 2002年02月28日
公開日(公表日): 2003年09月10日
要約:
【要約】【課題】 安価で、速い応答速度を有し、経年変化の少ない日射計を提供することを目的とする。【解決手段】 量子型センサーを利用した日射計であって、第一の量子型センサーと、光学フィルターを備えた第二の量子型センサーと、前記第一の量子型センサーからの第一の出力電圧及び前記第二の量子型センサーからの第二の出力電圧を受けて日射強度を算出する算出手段と、を備える日射計により、上記の課題は解決される。
請求項(抜粋):
量子型センサーを利用した日射計であって、第一の量子型センサーと、光学フィルターを備えた第二の量子型センサーと、前記第一の量子型センサーからの第一の出力電圧及び前記第二の量子型センサーからの第二の出力電圧を受けて日射強度を算出する算出手段と、を備える日射計。
IPC (2件):
G01J 1/02 ,  G01J 1/42
FI (2件):
G01J 1/02 U ,  G01J 1/42 J
Fターム (10件):
2G065AA15 ,  2G065BA02 ,  2G065BA40 ,  2G065BB26 ,  2G065BC13 ,  2G065BC33 ,  2G065BC35 ,  2G065CA08 ,  2G065CA25 ,  2G065DA20
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (5件)
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