特許

J-GLOBAL ID：200903029620483056

電磁波による密度測定方法およびその装置

発明者： 菅 野 克 美 ,  山 田 健 二 ,  前 田 哲 男
出願人/特許権者： 大成ロテック株式会社 ,  日本無線株式会社 ,  住友建機株式会社
代理人 (1件)： 磯野 道造
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-204821
公開番号（公開出願番号）：特開平9-054048
出願日： 1995年08月10日
公開日（公表日）： 1997年02月25日
要約：

【要約】【課題】舗装層を破壊することなく層厚さの影響をあまり受けずに層の平均的な密度を求めることが可能であり、また、測定結果をリアルタイムで判明することが可能であって精度の高い、電磁波による密度測定方法およびその装置を提供することを課題とする。【解決手段】測定対象層の上に比誘電率が既知の密度測定用補助板を置いて電磁波の反射波を測定し、密度測定用補助板と測定対象層の境界面での反射振幅、測定対象層とその下層の境界面での反射振幅、密度測定用補助板と測定対象層上面との境界面から測定対象層下面の境界面までに要する反射時間によって測定対象層の平均的な比誘電率を求める構成とする。

請求項（抜粋）：

測定対象層の上に比誘電率が既知の密度測定用補助板を置いて電磁波の反射波を測定し、密度測定用補助板と測定対象層の境界面での反射振幅、測定対象層とその下層の境界面での反射振幅、密度測定用補助板と測定対象層上面との境界面から測定対象層下面の境界面までに要する反射時間によって測定対象層の平均的な比誘電率を求めることを特徴とする、電磁波による密度測定方法。

IPC (3件)：

G01N 22/00 ,  G01N 9/24 ,  G01S 13/88

FI (4件)：

G01N 22/00 X ,  G01N 22/00 Y ,  G01N 9/24 D ,  G01S 13/88 G

引用特許：

審査官引用 (5件)

• 特開昭63-138241
  
• 特開昭63-115078
  
• 特公平2-014801
  
• 特開平4-351983
  
• 特開平3-289587