特許

J-GLOBAL ID：200903029694223633

伝送特性測定用プローブ及び伝送特性測定装置

発明者： 平田 真幸
出願人/特許権者： 富士ゼロックス株式会社
代理人 (1件)： 中島 淳 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-281207
公開番号（公開出願番号）：特開2001-099862
出願日： 1999年10月01日
公開日（公表日）： 2001年04月13日
要約：

【要約】【課題】 測定場所を選ぶことなく、被測定物の伝送特性を簡便に測定することができる伝送特性測定用プローブの提供を目的とする。【解決手段】 コア材12に1次コイル14と短絡した2次コイル16を対向する位置に設け、同軸線路18のインピーダンスと送端インピーダンスを一定とするために1次コイル14と同軸線路18の中心導体20に直列に抵抗素子22を設ける。更に、2次コイルと抵抗素子22固有のインダクタンスを打ち消して周波数帯域を広域化するために抵抗素子22に並列に容量素子24を設ける。また、広帯域で周波数インピーダンス特性を安定させるために、2次コイル16と同軸線路18のシールド外皮20を容量素子28により接続する。

請求項（抜粋）：

被測定物に接触させる接触部と、前記接触部が接続された第1の巻線及び前記被測定物の伝送特性を測定する測定装置に接続される第2の巻線を備えるトランスと、前記第2の巻線と前記測定装置との間に直列に接続された抵抗素子と、を備えることを特徴とする伝送特性測定用プローブ。

IPC (4件)：

G01R 1/067 ,  G01R 27/04 ,  G01R 27/28 ,  G01R 29/08

FI (4件)：

G01R 1/067 C ,  G01R 27/04 ,  G01R 27/28 Z ,  G01R 29/08 F

Fターム (12件)：

2G011AA00 ,  2G011AC32 ,  2G011AC33 ,  2G011AD01 ,  2G028AA01 ,  2G028AA04 ,  2G028BB10 ,  2G028BF05 ,  2G028CG08 ,  2G028CG22 ,  2G028DH09 ,  2G028DH15