特許
J-GLOBAL ID:200903029757477150

X線断層撮影方法及びX線断層撮影装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 井島 藤治 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-159088
公開番号(公開出願番号):特開平9-010203
出願日: 1995年06月26日
公開日(公表日): 1997年01月14日
要約:
【要約】【目的】 高品質な画像を生成することが可能なX線断層撮影方法及びX線断層撮影装置を実現する。【構成】 測定空間にX線を照射し、この測定空間に載置された被検体を透過して入射するX線を複数列のX線検出列で検出し、所定のスライス厚のX線の焦点を被検体の回りを回転させながら被検体の体軸方向に複数のスライス厚の合計の厚みより小さい一定の移動速度で移動させて、複数列のX線検出列のうちの少なくとも一列における螺旋状の回転軌道を他の一列の回転軌道と一致させ(ステップ1,2)、一致したX線検出列での螺旋状の回転軌道上の検出結果を加算(ステップ7)して被検体の断層像を形成する(ステップ8)ことを特徴とする。
請求項(抜粋):
測定空間にX線を照射し、この測定空間に載置された被検体を透過して入射するX線を複数列のX線検出列で検出し、所定のスライス厚のX線の焦点を被検体の回りを回転させながら被検体の体軸方向に複数のスライス厚の合計の厚みより小さい一定の移動速度で移動させて、複数列のX線検出列のうちの少なくとも一列における螺旋状の回転軌道を他の一列の回転軌道と一致させ、一致したX線検出列での螺旋状の回転軌道上の検出結果を加算して被検体の断層像を形成することを特徴とするX線断層撮影方法。
IPC (2件):
A61B 6/03 321 ,  A61B 6/03 320
FI (2件):
A61B 6/03 321 Q ,  A61B 6/03 320 Y

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