特許
J-GLOBAL ID:200903029780627364
犠牲試験片およびそれを用いた疲労損傷予知および応力情報取得方法
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
佐々木 宗治 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-315235
公開番号(公開出願番号):特開2002-122526
出願日: 2000年10月16日
公開日(公表日): 2002年04月26日
要約:
【要約】【課題】 本発明は、感度が高くシンプルで、しかも適用範囲が広くなる等の種々の利点が期待できる犠牲試験片を実現する。【解決手段】 本発明は、本体の長さ方向の中央部に、幅方向の人工き裂を設けた犠牲試験片において、人工き裂の進展方向に沿って本体の板面を切除して極薄部を形成した犠牲試験片を構成したものである。また、上記において、本体の板面を円弧溝加工を施して極薄部を形成した犠牲試験片を構成したものである。また、上記において、本体の板面をV溝加工を施して極薄部を形成した犠牲試験片を構成したものである。また、上記において、極薄部の板厚さをほぼ0.1mmに選定した犠牲試験片を構成した。
請求項(抜粋):
本体の長さ方向の中央部に、幅方向の人工き裂を設けた犠牲試験片において、前記人工き裂の進展方向に沿って本体の板面を切除して極薄部を形成したことを特徴とする犠牲試験片。
IPC (3件):
G01N 3/32
, G01L 1/00
, G01N 17/04
FI (4件):
G01N 3/32 K
, G01N 3/32 E
, G01L 1/00 A
, G01N 17/04
Fターム (12件):
2G050AA01
, 2G050BA12
, 2G050DA03
, 2G050EB01
, 2G050EC06
, 2G061AB05
, 2G061BA03
, 2G061BA15
, 2G061DA19
, 2G061EA02
, 2G061EA03
, 2G061EA10
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