特許
J-GLOBAL ID:200903029787587562
マーキング方法
発明者:
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出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平10-227884
公開番号(公開出願番号):特開2000-052070
出願日: 1998年08月12日
公開日(公表日): 2000年02月22日
要約:
【要約】【課題】 ガラス基板上に残存するパーティクルを完全に除去し、認識ミスが発生しない高品質のマークを形成する。【解決手段】 本発明のマーキング方法は、透明体又はレーザ光線透過体からなる被マーキング材1と金属、合金若しくは金属化合物、又は金属、合金若しくは金属化合物を含む複合物とからなるマーキング材2とを合わせて設置し、被マーキング材側からレーザ光線をマーキング材に照射し被マーキング材の表面粗さを粗くして文字、図形若しくは記号のマークを形成する第1工程と、近接して設置していた被マーキング材とマーキング材との距離を離し、被マーキング材にレーザ光線を照射する第2工程とからなる構成にしている。また、第1工程と第2工程との間に除塵工程を設けてもよい。
請求項(抜粋):
透明体又はレーザ光線透過体からなる被マーキング材と金属、合金若しくは金属化合物、又は金属、合金若しくは金属化合物を含む複合物とからなるマーキング材とを合わせて設置し、前記被マーキング材側からレーザ光線を前記マーキング材に照射し前記被マーキング材の表面粗さを粗くして文字、図形又は記号等のマークを形成する第1工程と、前記合わせて設置した被マーキング材と前記マーキング材との距離を離し、前記被マーキング材上の前記マーク及び前記マークの周辺にレーザ光線を照射する第2工程とからなることを特徴とするマーキング方法。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (6件):
2H111HA07
, 2H111HA14
, 2H111HA21
, 2H111HA32
, 4E068AB01
, 4E068DB13
引用特許:
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