特許
J-GLOBAL ID：200903029834922499
高周波プローブ及び高周波測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松隈 秀盛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-030533
公開番号（公開出願番号）：特開平7-239343
出願日： 1994年02月28日
公開日（公表日）： 1995年09月12日
要約：
【要約】【目的】 高周波特性を正確に測定するための高周波プローブ及び高周波測定装置を提供することを目的とする。【構成】 先端のヘッド11と該ヘッド11と反対側の端子部21とを有する高周波プローブにおいて、ヘッド11と端子部21の間にコンデンサを構成する絶縁部13を挿入した。
請求項（抜粋）：
先端のヘッドと該ヘッドと反対側の端子部とを有する高周波プローブにおいて、上記ヘッドと上記端子部の間にコンデンサを構成する絶縁部を挿入したことを特徴とする高周波プローブ。
IPC (2件)：
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