特許
J-GLOBAL ID：200903029853515004
マイクロメータ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
木下 實三 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-319641
公開番号（公開出願番号）：特開2001-141403
出願日： 1999年11月10日
公開日（公表日）： 2001年05月25日
要約：
【要約】【課題】フレームの変形に基づく測定誤差を低減できるとともに、コストダウンまたは軽量化をも達成できるマイクロメータを提供すること。【解決手段】測定の際にフレーム11に測定圧が加わると、フレーム11にたわみ変形が生じる。このとき、フレーム11を略S字状に形成したので、中心点11Cを境にフレーム11の両側でほぼ同量の外側方向へのたわみ変形が生じ、フレーム11のアンビル保持部位とスピンドル保持部位とが平行に保たれる。従って、アンビル保持部位及びスピンドル保持部位にそれぞれ保持されたアンビル12及びスピンドル15の姿勢も互いに平行が維持され、アンビル面12A及びスピンドル面15A間には相対的な傾きが生じない。これにより、被測定物を常に同じ姿勢でアンビル12及びスピンドル15間に挟むことができ、フレーム11の変形に基づく測定誤差を低減できる。
請求項（抜粋）：
フレームと、このフレームの一端側に設けられたアンビルと、フレームの他端側に前記アンビルに対して進退可能に設けられたスピンドルとを備えたマイクロメータにおいて、前記フレームは、一端と他端との中間に中心点を有するとともに一端と中心点との間及び他端と中心点との間の部分が略同一形状かつスピンドルを挟んで両側に位置する形状に形成され、前記フレームの中心点には前記スピンドルの基点からの進退方向への変位量を検出する第1変位検出器が、前記フレームの中心点を挟んでアンビルの被測定物当接面の中心と対称な位置には前記スピンドルの基点からの進退方向への変位量を検出する第2変位検出器がそれぞれ設けられていることを特徴とするマイクロメータ。
Fターム (21件)：
2F061AA16
, 2F061AA20
, 2F061DD03
, 2F061DD04
, 2F061DD14
, 2F061EE08
, 2F061EE11
, 2F061FF04
, 2F061FF46
, 2F061FF61
, 2F061FF65
, 2F061FF73
, 2F061GG04
, 2F061HH34
, 2F061JJ02
, 2F061JJ08
, 2F061JJ11
, 2F061QQ02
, 2F061QQ12
, 2F061QQ14
, 2F061QQ21
