特許
J-GLOBAL ID:200903029892397159
浮遊粒子濃度計測装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
山口 巖
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-120285
公開番号(公開出願番号):特開平6-331543
出願日: 1993年05月24日
公開日(公表日): 1994年12月02日
要約:
【要約】【目的】投光部,受光部の光学窓,レンズの汚れ、および光電素子の経時的な特性変化の影響を殆ど受けることなしに、長期間安定な測定精度が得られるようにした浮遊粒子濃度計測装置を提供する。【構成】投光部1と受光部2との間の被測定空間に浮遊する粒子状物質の濃度を光学的に計測する装置であって、平行な光を出射する投光部と、該投光部からの出射光をその投光軸O上で透過光4aを受光し、その受光量(Ia)に応じた電気信号を出力する第1の受光部2Iと、前記投光軸と異なる光軸O1 上で浮遊粒子5による散乱光4bを受光し、その受光量(Ib)に応じた電気信号を出力する第2の受光部2IIと、演算部3とから構成し、第1の受光部と第2の受光部の電気信号出力の比(Ib/Ia)を演算して浮遊粒子濃度に対応した測定出力(Y)を得る。
請求項(抜粋):
投光部と受光部との間の被測定空間に浮遊する粒子状物質の濃度を光学的に計測する装置であって、平行な光を出射する投光部と、該投光部からの出射光をその投光軸上で受光し、その受光量に応じた電気信号を出力する第1の受光部と、前記投光軸と異なる光軸上で浮遊粒子の散乱光を受光し、その受光量に応じた電気信号を出力する第2の受光部と、第1受光部の電気信号出力と第2受光部の電気信号出力の比を演算して測定出力を得る演算器とから構成したことを特徴とする浮遊粒子濃度計測装置。
IPC (3件):
G01N 21/59
, G01N 15/06
, G01N 21/49
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