特許
J-GLOBAL ID：200903029895697994
位置測定装置及びそれに使用する回転レーザ装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中村 稔 (外9名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-011679
公開番号（公開出願番号）：特開2003-214852
出願日： 2002年01月21日
公開日（公表日）： 2003年07月30日
要約：
【要約】【課題】 簡単な機構で水平基準面及び傾斜基準面を同時に形成することができる位置測定装置を提供する。【解決手段】 本発明の位置測定装置(100)は、水平面以外の面内に広がりを持つ少なくとも2つのファンビームレーザ光(152、153)、即ち、扇形平面状に広がるレーザビームを射出しながら所定の軸線を中心に回転する回転レーザ装置(151)と、ファンビームレーザ光を受光する少なくとも1つの受光部を有する受光センサ装置(154)とを含み、ファンビームレーザ光のうちの少なくとも1つの傾斜角度は他のファンビームレーザ光の傾斜角度と異なり、ファンビームレーザ光を受光した受光部の受光状態に基づいて回転レーザ装置に対する受光センサ装置の位置を測定するように構成されていることを特徴としている。
請求項（抜粋）：
水平面以外の面内に広がりを持つ少なくとも2つのファンビームレーザ光を射出しながら所定の軸線を中心に前記ファンビームレーザ光を回転させるように構成された回転レーザ装置と、前記ファンビームレーザ光を受光する少なくとも1つの受光部を有する受光センサ装置とを含み、前記ファンビームレーザ光のうちの少なくとも1つの傾斜角度は他のファンビームレーザ光の傾斜角度と異なり、前記ファンビームレーザ光を受光した前記受光部の受光状態に基づいて、前記受光センサ装置が前記回転レーザ装置に対する前記受光センサ装置の位置を測定するように構成されていることを特徴とする位置測定装置。
IPC (2件)：
G01C 15/00 103
, G01C 15/00 102
G01C 15/00 103 D
, G01C 15/00 102 C
