特許
J-GLOBAL ID：200903029912214021
ワンチツプマイクロコンピユータの不良解析方式
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
熊谷 隆 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-238673
公開番号（公開出願番号）：特開平5-053854
出願日： 1991年08月26日
公開日（公表日）： 1993年03月05日
要約：
【要約】【目的】 正常ワンチップマイクロコンピュ-タと不良ワンチップマイクロコンピュ-タを同期して動作させ、両方の実行結果を比較することにより不良原因を解析するワンチップマイクロコンピュ-タの不良解析装置を提供する。【構成】 信号を取り出すプロ-ブ2が用意された実機ユニット1と、スタ-トスイッチ4、リセットスイッチ5、リセット回路7、クロック8、正常CPU9と不良CPU10を実装して実行結果を比較する不一致検出回路11からなるチェックボ-ド部3と、チェックボ-ド部3から来る不一致信号をもとにコントロ-ルCPU13で制御を行うコントロ-ル部12と、各ボ-ドを結ぶコネクタ14から構成される。
請求項（抜粋）：
正常ワンチップマイクロコンピュ-タと不良ワンチップマイクロコンピュ-タを同期して動作させる手段と、両ワンチップマイクロコンピュ-タの実行結果を比較し不一致を検出する手段と、実機ユニットよりデ-タを読み出す手段と、これらを制御する手段を具備したワンチップマイクロコンピュ-タの不良解析方式において、ユ-ザが使用する実機ユニットとアプリケ-ションソフトを用いて、不良ワンチップマイクロコンピュ-タと正常ワンチップマイクロコンピュ-タの同期をとりながらプログラム命令を実行し、1ステップごとに不良ワンチップマイクロコンピュ-タと正常ワンチップマイクロコンピュ-タの実行結果を比較し、両者が不一致の時点を検出しその時点で必要なデ-タを読みだし不良解析を行うことを特徴とするワンチップマイクロコンピュ-タの不良解析方式。
IPC (3件)：
G06F 11/22 310
, G06F 11/22 340
, G06F 15/78 510
