特許

J-GLOBAL ID：200903029961018963

発光分光分析装置および発光分光分析方法

発明者： 石井 一也 ,  松本 義朗
出願人/特許権者： 住友金属工業株式会社
代理人 (1件)： 井内 龍二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-241539
公開番号（公開出願番号）：特開平6-094619
出願日： 1992年09月10日
公開日（公表日）： 1994年04月08日
要約：

【要約】【構成】 鋼試料8との間で放電させる電極5が内装された発光スタンド2を備え、発光スタンド2の傾斜面に試料孔4を有する鋼試料載置用の試料台3が配設された発光分光分析装置において、電極5、または電極5および発光スタンド2の内壁部2aと試料台3とのうちの少なくとも1つに加熱手段(電熱線11、電熱線13)が配設されている発光分光分析装置。【効果】 鋼試料8中の微量成分を高精度に定量分析することができる。

請求項（抜粋）：

鋼試料との間で放電させる電極が内装された発光スタンドを備え、該発光スタンドの傾斜面に試料孔を有する前記鋼試料載置用の試料台が配設された発光分光分析装置において、前記電極、または前記電極および前記発光スタンドの内壁部と前記試料台とのうちの少なくとも1つに加熱手段が配設されていることを特徴とする発光分光分析装置。