特許
J-GLOBAL ID：200903030034294021
X線撮像法およびX線撮像装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-334339
公開番号（公開出願番号）：特開2002-139459
出願日： 2000年11月01日
公開日（公表日）： 2002年05月17日
要約：
【要約】【課題】 位相シフタを用いずに位相決定精度の良い位相像を取得する。【解決手段】 入射X線を分割する素子と分割されたX線を結合する素子を相対的に平行移動或いは回転により、干渉計計内の光路長の差(位相差)を変化させる。そして、各位相差で測定した複数の干渉像から位相像を計算で求める。
請求項（抜粋）：
入射するX線を分割素子により相互に干渉する二つのビームに分割し、上記二つのビームの一つに被写体を挿入して得られるビームと他の一つのビームとを結合素子により結合して、上記被写体の像を得るX線撮像法において、上記分割素子と上記結合素子の相対的な位置を変化させて測定した複数の像から上記被写体の位相像を得ることを特徴とするX線撮像法。
Fターム (13件)：
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001BA18
, 2G001CA01
, 2G001DA02
, 2G001EA07
, 2G001EA09
, 2G001HA07
, 2G001HA13
, 2G001JA01
, 2G001JA11
, 2G001JA13
, 2G001KA03
