マルチポート回路のSパラメータ測定方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：永田武三郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-263063
公開番号（公開出願番号）：特開平6-088844
出願日： 1992年09月04日
公開日（公表日）： 1994年03月29日
要約：

【要約】【目的】ベクトルネットワークアナライザによって測定されたマルチポート回路のSパラメータから誤差要因を除去して真のSパラメータを得るための測定方法を提供することである。【構成】ベクトルネットワークアナライザ18の第1ポート11から第1の測定端6までの誤差要因のSパラメータと、第2ポート12から第2の測定端7までの誤差要因のSパラメータと、(N-2)個の無反射終端器13,14の誤差要因の反射係数を算出する。実際のNポート回路5の測定時には、測定に使用しないポート3,4に無反射終端器13,14を接続し、測定されたSパラメータから上記誤差要因を取り除いて真のSパラメータを得る。

請求項（抜粋）：

第1及び第2の測定端に接続された第1及び第2の測定ポートを有するベクトルネットワークアナライザを用いてN(3以上の整数)ポート回路のSパラメータを測定する方法において、反射係数の大きな1ポートの負荷と、電気長の異なる2つの伝送線路を校正用標準器として具備し、第1の測定端と上記負荷を接続して反射係数を測定し、上記第2の測定端と上記負荷を接続して反射係数を測定し、上記第1の測定端と第2の測定端の間に電気長の短い伝送線路を挿入して4個のSパラメータを測定し、上記第1の測定端と第2の測定端の間に電気長の長い伝送線路を挿入して4個のSパラメータを測定し、前記第1の測定端と(N-2)個の無反射終端器の間に順次電気長の短い伝送線路を挿入して反射係数を測定し、これらの測定結果から、前記ベクトルネットワークアナライザの第1の測定ポートから第1の測定端までの誤差要因Sパラメータと、第2ポートから第2の測定端までの誤差要因Sパラメータと、(N-2)個の無反射終端器の誤差要因反射係数を算出し、前記Nポート回路のN個あるポートのうち測定に使用しない(N-2)個のポートに上記(N-2)個の無反射終端器を接続して、該回路のSパラメータを測定し、測定されたSパラメータから上記誤差要因のSパラメータ及び反射係数を取り除いてNポート回路の真のSパラメータを得ることを特徴とするマルチポート回路のSパラメータ測定方法。

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