集積回路装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：京本直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-172230
公開番号（公開出願番号）：特開平6-018628
出願日： 1992年06月30日
公開日（公表日）： 1994年01月28日
要約：

【要約】【目的】テスト時のときだけ働くバウンダリィスキャンテスト回路を通常動作時に止めて、その分の消費電力を低減させること。【構成】集積回路チップ1周辺のI/Oセル3内に含むバウンダリィスキャンレジスタ5と内部領域2に設けられたテストコントロール部6からなるバウンダリィスキャンテスト回路用に独立なテスト回路用電源ライン8を主第1電源ライン7と別個に設ける。【効果】通常動作時にテスト回路用電源を止めることができ、その分の消費電力の低減ができる。

請求項（抜粋）：

データセレクタとフリップフロップまたはラッチ回路とからなるバウンダリィスキャンレジスタと、このレジスタにテスト信号を入力するテストコントロール部とを含むバウンダリィスキャンテスト回路を有する集積回路装置において、前記バウンダリィスキャンテスト回路のうちのテストの時だけ動作する回路に対し、他の回路と独立な電源ラインと電源パッドとを備えていることを特徴とする集積回路装置。

IPC (3件)：

G01R 31/28 , G01R 31/26 , H01L 27/04

FI (2件)：

G01R 31/28 V , G01R 31/28 G

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