学習弱点判定方法及び装置及び学習弱点判定プログラム及び学習弱点判定プログラムを格納した記憶媒体

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：伊東忠彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-258546
公開番号（公開出願番号）：特開2003-066822
出願日： 2001年08月28日
公開日（公表日）： 2003年03月05日
要約：

【要約】【課題】アダプティブテストによる弱点判定を行うことで、問題の困難度を考慮した弱点判定を行うことを可能にする。【解決手段】本発明は、複数のカテゴリを含む問題からなる総合試験を実施し、総合試験の試験結果から弱点と推測されるカテゴリを特定し、特定されたカテゴリの問題のみを用いて、学習者の能力に応じて適応的に試験を行うアダプティブテストを行い、アダプティブテストによる能力値を求め、該能力値を基準に弱点であるかを判定する。

請求項（抜粋）：

コンピュータを用いて学習・テストを行った際に、学習者の学習に対する弱点を判定するための学習弱点判定方法において、複数のカテゴリを含む問題からなる総合試験を実施し、前記総合試験の試験結果から弱点と推測されるカテゴリを特定し、特定されたカテゴリの問題のみを用いて、学習者の能力に応じて適応的に試験を行うアダプティブテストを行い、前記アダプティブテストによる能力値を求め、前記能力値を基準に弱点であるかを判定することを特徴とする学習弱点判定方法。

IPC (2件)：

G09B 7/04 , G06F 17/60 128

FI (2件)：

G09B 7/04 , G06F 17/60 128

Fターム (7件)：

2C028AA00 , 2C028BA02 , 2C028BB04 , 2C028BC01 , 2C028BC02 , 2C028BD03 , 2C028CA12

引用特許：

審査官引用 (1件)

学習支援システム
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-341915 出願人：日立ソフトウエアエンジニアリング株式会社, 株式会社アイテツク

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