特許
J-GLOBAL ID:200903030169247740

強誘電体薄膜、電子デバイスおよび強誘電体薄膜の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 石井 陽一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平7-240607
公開番号(公開出願番号):特開平9-063991
出願日: 1995年08月25日
公開日(公表日): 1997年03月07日
要約:
【要約】【構成】 Si等の単結晶基板上に形成され、六方晶YMnO3 の結晶構造を有し、主成分が希土類金属元素(ScおよびYを含む)、MnおよびOであり、基板表面と平行にc面配向した強誘電体薄膜と、その製造方法と、それを用いた電子デバイス。【効果】 特にMFIS構造およびMFMIS構造を有するゲート型不揮発性メモリー用途に好適なものとなる。
請求項(抜粋):
基板上に形成され、六方晶YMnO3 の結晶構造を有し、主成分が希土類金属元素(ScおよびYを含む)、MnおよびOであり、基板表面と平行にc面配向した強誘電体薄膜。
IPC (9件):
H01L 21/283 ,  C30B 29/22 ,  H01G 4/33 ,  H01L 27/10 451 ,  H01L 27/108 ,  H01L 21/8242 ,  H01L 21/8247 ,  H01L 29/788 ,  H01L 29/792
FI (6件):
H01L 21/283 C ,  C30B 29/22 Z ,  H01L 27/10 451 ,  H01G 4/06 102 ,  H01L 27/10 651 ,  H01L 29/78 371

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