特許

J-GLOBAL ID：200903030185281711

眼光学特性測定装置

発明者： 広原 陽子 ,  三橋 俊文
出願人/特許権者： 株式会社トプコン
代理人 (1件)： 和泉 雄一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-089978
公開番号（公開出願番号）：特開2001-275972
出願日： 2000年03月28日
公開日（公表日）： 2001年10月09日
要約：

【要約】[目的] 本発明は、被検眼眼底に微小光源像を投影するための投影系と、眼底からの反射光で被検眼瞳孔内から射出される光束の波面を検出するための波面検出系を有する眼光学特性測定装置を提供することを目的とする。[構成] 本発明は、投影系が、被検眼眼底に微少光源像を投影し、波面検出系が、眼底からの反射光で被検眼瞳孔内から射出される光束の波面を検出し、投影系と波面検出系の両光路内に、少なくとも1つの収差補正用透過面を有する偏角プリズムが、入射する光束を偏向させることができる。

請求項（抜粋）：

被検眼眼底に微少光源像を投影するための投影系と、該眼底からの反射光で被検眼瞳孔内から射出される光束の波面を検出するための波面検出系と、前記投影系と波面検出系の両光路内に、少なくとも1つの収差補正用透過面を有し入射する光束を偏向させるための偏角プリズムを配置したことを特徴とする眼光学特性測定装置。