特許
J-GLOBAL ID：200903030227864992
半導体論理回路の待機時電流測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井桁 貞一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-286198
公開番号（公開出願番号）：特開平5-126899
出願日： 1991年10月31日
公開日（公表日）： 1993年05月21日
要約：
【要約】【目的】貫通電流と待機時電流を別系統の電源から流し込むことにより、内部状態の遷移を速やかにして測定時間の短縮化を図ることを目的とする。【構成】被測定半導体論理回路の内部状態の遷移期間に相当する第1の期間と該第1の期間以降の第2の期間とで使用する前記半導体論理回路への電源供給経路を別系統とし、該第2の期間に流れる電源電流の大きさを測定することを特徴とする半導体論理回路の待機時電流測定装置。
請求項（抜粋）：
被測定半導体論理回路の内部状態の遷移期間に相当する第1の期間と該第1の期間以降の第2の期間とで使用する前記半導体論理回路への電源供給経路を別系統とし、該第2の期間に流れる電源電流の大きさを測定することを特徴とする半導体論理回路の待機時電流測定装置。
IPC (3件)：
G01R 31/26
, G01R 31/28
, H03K 19/00
