特許
J-GLOBAL ID：200903030254946410
加工製品の外観検査、選別方法および加工製品の外観検査、選別システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
金山 聡
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-367336
公開番号（公開出願番号）：特開2004-198265
出願日： 2002年12月18日
公開日（公表日）： 2004年07月15日
要約：
【課題】微細な加工品の量産、高品質要求に対応でき、且つ、装置コストの低い検査および選別方法を提供する。【解決手段】第1の場所に各加工製品の画像取り込み処理部と、得られた各画像データと基本画像データ比較により欠陥候補箇所を抽出する欠陥候補箇所抽出処理部と、欠陥候補箇所の画像データ抽出処理部と、欠陥候補箇所の位置データ、欠陥候補箇所の画像データ等を関連付けて管理する第1のデータ管理用コンピュータと、データを基にマーキングを施す選別処理部とを備え、第1の場所から離れた1つないし複数の作業場所に欠陥候補箇所の位置データ、欠陥候補箇所の画像データを基に、各欠陥候補箇所の画像を拡大表示して、欠陥箇所であるか否かを作業者が判定し、且つ、判定結果データを得るための欠陥箇所判定処理部と、データ等を管理し、前記判定結果データを第1の場所の選別処理部へ転送するための第2のデータ管理用コンピュータとを備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
複数の製品がシート状の被加工基材に支持部により保持された状態の、加工製品の外観検査、選別方法であって、順に、第1の場所において、各加工製品の画像を取り込む画像取り込む画像取り込み処理と、画像取り込み処理により取り込まれた各画像データと基本画像データとを比較することにより、所定の設定条件にて欠陥候補箇所を抽出する欠陥候補箇所抽出処理を行ない、更に欠陥候補箇所の画像データの抽出処理とを行なった後、第1の場所から離れた1つないし複数の作業場所において、第1の場所における、欠陥候補箇所抽出処理、欠陥候補箇所の画像データの抽出処理によりそれぞれ得られた、各加工製品の欠陥候補箇所の位置データおよび欠陥候補箇所の画像データを受け取り、パソコンレベルで、各加工製品の各欠陥候補箇所の画像を拡大表示して、それぞれが、欠陥箇所であるか否かを作業者が判定し、且つ、判定結果データを得る欠陥箇所判定処理とを行ない、更に、第1の場所において、前記1つないし複数の作業場所から判定結果データを受け取り、判定結果データを基に、欠陥箇所を含む製品あるいは欠陥箇所を所定数含む1連の製品群に対し、マーキングを施し選別する選別処理を行なうことを特徴とする加工製品の外観検査、選別方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B11/30 A
, G01N21/88 Z
2F065AA03
, 2F065AA49
, 2F065AA61
, 2F065CC00
, 2F065FF04
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065QQ03
, 2F065SS04
, 2G051AA07
, 2G051AA71
, 2G051AB02
, 2G051CA03
, 2G051CA04
, 2G051DA15
, 2G051EA08
, 2G051EA14
, 2G051EB01
, 2G051EB02
, 2G051ED07
, 2G051FA04
