特許
J-GLOBAL ID：200903030274943914
浸透探傷検査方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-357277
公開番号（公開出願番号）：特開2003-156452
出願日： 2001年11月22日
公開日（公表日）： 2003年05月30日
要約：
【要約】【課題】 浸透探傷検査において、被検査物の微細な表層欠陥中にも探傷液を浸透させ、表層欠陥の検出を容易にする浸透探傷検査方法及び装置を提供する。【解決手段】 容器2に充填した探傷液3に被検査物6を浸漬させ、探傷液3を加熱手段4により昇温した後、被検査物6の表層欠陥7から発生した気泡8を加振手段5で振動を与えて除去することにより、被検査物6の微細な表層欠陥7へ探傷液3を浸透可能として、被検査物6の微細な表層欠陥7を容易に検出できるようにした。
請求項（抜粋）：
被検査物の表層欠陥を非破壊的に検出するための浸透探傷検査方法において、探傷液を充填した容器中に被検査物を浸漬し、該容器中に充填した探傷液を昇温することによって、被検査物の表層欠陥を膨張させ、該表層欠陥の微細部分に探傷液を浸透させることにより微細な表層欠陥を容易に検出することを特徴とする浸透探傷検査方法。
Fターム (5件)：
2G051GB01
, 2G051GB03
, 2G051GB04
, 2G051GC01
, 2G051GC15
