特許

J-GLOBAL ID：200903030305029264

校正用サンプルホルダー

発明者： 草野 陽介
出願人/特許権者： 加速器エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 西澤 利夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-272162
公開番号（公開出願番号）：特開2004-105466
出願日： 2002年09月18日
公開日（公表日）： 2004年04月08日
要約：

【課題】試料を高い密封性をもって封入することができ、また、空気層やパラフィルムなどの校正の妨げとなる不要な像がCT像に混入することがなく、さらには、効率的な校正作業を実現する新しい校正用サンプルホルダーを提供する。【解決手段】液体/固体/気体試料を封入するための容器部(1)とキャップ部(2)とからなる校正用サンプルホルダーであって、キャップ部(2)における試料接触面に対してテーパー加工(10)がなされており、また、キャップ部(2)を容器部(1)に押し込むことにより試料接触面に集められた試料中の空気層(11)を外部へ導出するための空気除去口(7)をキャップ部(2)に備える。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

放射線CT診断装置あるいは放射線照射装置の校正に用いるサンプルホルダーであって、液体/固体/気体試料を封入するための容器部とキャップ部とからなり、キャップ部における試料接触面に対してテーパー加工がなされており、キャップ部を容器部に押し込むことにより試料接触面に集められた試料中の空気層を外部へ導出するための空気除去口をキャップ部に備えることを特徴とする校正用サンプルホルダー。

IPC (3件)：

A61B6/03 ,  A61B6/00 ,  G01T7/00

FI (3件)：

A61B6/03 F ,  A61B6/00 390A ,  G01T7/00 C

Fターム (6件)：

2G088EE02 ,  2G088JJ36 ,  2G088LL26 ,  4C093AA22 ,  4C093FC12 ,  4C093GA02

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 特開昭63-203144
  

審査官引用 (2件)

• 特開昭63-203144
  
• 特開昭63-203144