特許
J-GLOBAL ID：200903030319608658
経年脆化検出方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
則近 憲佑
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-027017
公開番号（公開出願番号）：特開平5-223726
出願日： 1992年02月14日
公開日（公表日）： 1993年08月31日
要約：
【要約】【目的】 脆化度の検出に当り、被測定物の結晶粒界を短時間で腐食させるとともに、結晶粒界の腐食溝深さを的確に把握すること。【構成】 被計測部と電解セルの電解液に電流を加え、電流変化値を掃引後、電解液の電流密度が極小値になったところでその掃引を一旦停止させて被計測部に不動態皮膜を形成せしめ、不動態皮膜形成後、電流値を逆掃引させて電解液の電流密度の極小値を確認するとともに、掃引中、不動態皮膜を形成できなかった被計測部位の粒界腐食溝深さを測定し、測定結果を予め求めておいた破面遷移温度線図にプロットする。
請求項（抜粋）：
電解液に接する被計測部に電位を加え、その電位を掃引しながら被計測部と対極との間に流れる電流密度が極小値になったところで電位の掃引を一旦停止させて被計測部に不動態皮膜を形成せしめ、不動態皮膜形成後、電位を逆掃引させて電解液の電流密度の極小値を確認するとともに、この電流密度の極小値を与える電位を一定時間保持することにより被計測部の粒界を腐食せしめ、しかる後粒界腐食溝深さを測定し、測定結果を予め求めておいた破面遷移温度線図にプロットすることを特徴とする経年脆化検出方法。
IPC (3件)：
G01N 17/02
, G01N 27/26 351
, G01N 33/20
