特許
J-GLOBAL ID:200903030327316607
組織マッピングシステムと方法
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件):
浅村 皓
, 浅村 肇
, 清水 邦明
, 林 鉐三
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2004-556714
公開番号(公開出願番号):特表2006-508732
出願日: 2003年12月05日
公開日(公表日): 2006年03月16日
要約:
調査中の組織の表面にあてがうための試験電極10の二次元アレイと各試験電極の下にある組織の電気的特性を測定するための回路手段50〜66とを含む組織マッピングシステム。一実施例における電気的特性は、各試験電極の下にある組織のインピーダンスである。
請求項(抜粋):
調査中の組織の表面にあてがう一組の試験電極と、各試験電極の下にある前記組織の電気的特性を測定するための回路手段とを含む組織マッピングシステム。
IPC (3件):
A61B 5/05
, A61B 5/047
, A61B 5/040
FI (2件):
A61B5/05 B
, A61B5/04 300M
Fターム (7件):
4C027AA06
, 4C027DD05
, 4C027EE01
, 4C027EE03
, 4C027HH13
, 4C027KK03
, 4C027KK05
引用特許:
引用文献:
審査官引用 (1件)
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Correlation of impedance response patterns to histological findings in irritant skin reactions induc
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