特許
J-GLOBAL ID：200903030355529306
温度測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-294086
公開番号（公開出願番号）：特開平10-142075
出願日： 1996年11月06日
公開日（公表日）： 1998年05月29日
要約：
【要約】【課題】 高周波磁場の影響を受けることなく、正確に温度測定をすることができ、小型で安価な温度測定装置を提供する。【解決手段】 第1の熱電素線21と、第2の熱電素線22と、第1の熱電素線21の一端と第2の熱電素線22の一端とを接続して形成した測温接点23とを有する熱電素子24と、熱電素子24を内部に収納する、磁性体からなる保護管25とを備え、保護管25は、第1の熱電素線21を収納する第1の貫通孔28と、第2の熱電素線22を収納する第2の貫通孔29と、保護管25の一端側に設けられ、第1の貫通孔28と第2の貫通孔29に連通し、測温接点23を収納する測温接点収納凹部30と、を有することを特徴とする。
請求項（抜粋）：
第1の熱電素線と、第2の熱電素線と、前記第1の熱電素線の一端と前記第2の熱電素線の一端とを接続して形成した測温接点とを有する熱電素子と、前記熱電素子を内部に収納する、磁性体からなる保護管とを備え、前記保護管は、前記第1の熱電素線を収納する第1の貫通孔と、前記第2の熱電素線を収納する第2の貫通孔と、前記保護管の一端側に設けられ、前記第1の貫通孔と前記第2の貫通孔に連通し、前記測温接点を収納する測温接点収納凹部と、を有することを特徴とする温度測定装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01K 7/18 Z
, G01K 1/08 Z
