特許

J-GLOBAL ID：200903030364811880

テストパターン作成シミユレーシヨンシステム

発明者： 山本 敏雄
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (1件)： 大澤 敬
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-303195
公開番号（公開出願番号）：特開平5-143666
出願日： 1991年11月19日
公開日（公表日）： 1993年06月11日
要約：

【要約】【目的】 設計した論理回路を複数種類のタイミングの異なるテストパターンによって容易にシミュレーションできるようにする。【構成】 論理回路をシミュレーションするためのテストパターンのサイクル幅と各信号に対するタイミングを定義してテストパターンを入力し、テストパターンタイミング振れ幅設定手段14によって定義されたタイミングに対して振れ幅を設定する。そして、その設定したタイミングの振れ幅によって入力されたテストパターンの波形を展開して表示し、そのテストパターンをテストパターンシミュレータフォーマット変換手段15によってシミュレーション実行手段13においてシミュレーション可能なフォーマットに変換する。

請求項（抜粋）：

論理回路をシミュレーションするためのテストパターンのサイクル幅と各信号に対するタイミングを定義するテストパターンタイミング定義手段と、テストパターンを入力するテストパターン入力手段と、該手段によって前記テストパターンタイミング定義手段によって定義されたサイクル幅とタイミングで入力されたテストパターンの波形を表示するテストパターン波形表示手段と、前記テストパターンによってシミュレーションを実行するシミュレーション実行手段とを備えたテストパターン作成シミュレーションシステムにおいて、前記テストパターンタイミング定義手段によって定義されたタイミングに対してそのタイミングの振れ幅を設定するテストパターンタイミング振れ幅設定手段を設け、該手段によって設定したタイミングの振れ幅によって前記入力されたテストパターンの波形を展開して前記テストパターン波形表示手段に表示できるようにしたことを特徴とするテストパターン作成シミュレーションシステム。

IPC (6件)：

G06F 15/60 360 ,  G01R 31/28 ,  G06F 11/22 310 ,  G06F 11/22 330 ,  G06F 11/24 ,  G06F 11/26 310