特許
J-GLOBAL ID：200903030379743686
半導体メモリ装置およびその検査方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
富村 潔
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-220906
公開番号（公開出願番号）：特開平7-078498
出願日： 1994年08月22日
公開日（公表日）： 1995年03月20日
要約：
【要約】【目的】 ページモードDRAMに対して一般に用いられている市販品の製造テスターにより実質的に2倍にされたクロック周波数により検査を行い得る半導体メモリ装置を提供する。【構成】 メモリ制御信号バーCS、バーRAS、バーCAS、バーWE、ADD及び外部クロック信号CLKにより駆動されるモード選択装置17と、外部クロック信号CLK及びモード選択装置17の出力により駆動されるパルス変換器装置16とを備え、パルス変換器装置16の出力端よりクロック信号CKIを取り出す。
請求項（抜粋）：
行(2)および列(3)に編成されたメモリセル領域(1)と、メモリセル領域(1)に対応付けられた行アドレスデコーダ(10)と、メモリセル領域(1)に対応付けられた列アドレスデコーダ(11)と、メモリセル領域(1)および列アドレスデコーダ(11)と接続されているデータ伝送装置(12)と、データ伝送装置(12)と接続されているデータ入力/出力装置(13)と、列アドレスデコーダ(11)を駆動するアドレスカウント装置(15)と、行アドレスデコーダ(10)、アドレスカウント装置(15)およびデータ入力/出力装置(13)を駆動する、少なくともアドレス信号(ADD)、行アドレスストローブ信号(バーRAS)、列アドレスストローブ信号(バーCAS)および書込みレリーズ信号(バーWE)に対する一時メモリ(14)とを含んでおり、一時メモリ(14)、アドレスカウント装置(15)およびデータ入力/出力装置(13)がクロック信号(CKI)により駆動される半導体メモリ装置において、メモリ制御信号(バーCS、バーRAS、バーCAS、バーWE、ADD)および外部クロック信号(CLK)により駆動可能なモード選択装置(17)と、外部クロック信号(CLK)およびモード選択装置(17)により駆動可能であり、クロック信号(CKI)を供給するパルス変換器装置(16)とを含んでいることを特徴とする半導体メモリ装置。
IPC (2件)：
G11C 29/00 303
, G11C 11/401
