特許
J-GLOBAL ID:200903030389950370

欠陥深さ位置検出装置及びその方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 光石 俊郎 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-234452
公開番号(公開出願番号):特開平7-092111
出願日: 1993年09月21日
公開日(公表日): 1995年04月07日
要約:
【要約】【目的】 被検体中の欠陥の深さを求めることができる欠陥深さ位置検出装置及びその方法を提供することを目的とする。【構成】 被検体5におけるX線の透過量の違いを利用して被検体5の探傷を行なう欠陥深さ位置検出装置であって、X線源1、このX線源1を移動する線源移動機構2、X線源1の移動量検出用の変位センサ3、X線源1と被検体5やX線カメラ6との距離を図る距離計4、X線カメラ6、欠陥画像抽出手段7及び欠陥位置演算手段8を有しており、X線源1を被検体5の表面と平行に移動させて被検体5の像をX線カメラ6で撮影するとともに、欠陥画像抽出手段6により抽出した複数の撮影画像上に写る欠陥5aの像の移動距離から被検体5の欠陥5aの深さを欠陥位置演算手段8により求めるようにしたものである。
請求項(抜粋):
被検体におけるX線等の放射線の透過量の違いを利用して被検体の探傷を行なう欠陥深さ位置検出装置において、X線等の放射線を放射する線源と、この線源を被検体の表面と平行に移動する線源移動機構と、前記線源の移動量を検出する変位センサと、被検体を透過した放射線による被検体の像を撮影するカメラと、このカメラの画像情報から被検体中の欠陥を抽出する欠陥画像抽出手段と、前記線源と被検体及びカメラとの間の距離を計測する距離計と、前記変位センサ、距離計及び欠陥画像抽出手段の出力信号に基づき線源を移動して撮影したそれぞれの位置における欠陥の像の移動量、線源の移動量、線源と被検体との間の距離及び被検体とカメラとの間の距離に基づき被検体中の欠陥の深さ位置を演算する欠陥位置演算手段とを有することを特徴とする欠陥深さ位置検出装置。

前のページに戻る