特許

J-GLOBAL ID：200903030442193527

テラヘルツ放射の吸収を検知するための方法及び装置

発明者： トロツ, セス ,  コイル, ピーター, ジェームス
出願人/特許権者： サーノフ・コーポレーション
代理人 (2件)： 山田 行一 ,  野田 雅一
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-514888
公開番号（公開出願番号）：特表2006-526153
出願日： 2004年05月17日
公開日（公表日）： 2006年11月16日
要約：

本発明は、テラヘルツ放射を検知するための方法及び装置である。一実施形態において、コヒーレントな遠赤外電磁放射掃引源を用いて、周波数変調分光分析がターゲットに向けて行われる。放射ビームが、ターゲットが収容されているセルを通過し、ターゲット中の汚染物質により、或る周波数が吸収されたときにビームがエネルギーを損失する。放射線がどれだけのエネルギーを損失したか(どの周波数がセルを通過できなかったか)を決定するために検知器が配置されており、この決定により、ターゲット中の汚染物質の存在が示される。

請求項（抜粋）：

試料中の汚染物質を検知するためのシステムであって、 前記試料中の汚染物質の分子を濃縮するための濃縮装置(102)と、 濃縮された分子を分析するために受け入れるための、前記濃縮装置(102)に接続されたテラヘルツ放射検知システム(104)と を備えるシステム。

IPC (3件)：

G01N 21/35 ,  G01N 1/36 ,  G01N 1/28

FI (3件)：

G01N21/35 Z ,  G01N1/28 Z ,  G01N1/28 K

Fターム (34件)：

2G052AA40 ,  2G052AB23 ,  2G052AC12 ,  2G052AD02 ,  2G052AD23 ,  2G052AD42 ,  2G052BA05 ,  2G052BA14 ,  2G052CA04 ,  2G052CA11 ,  2G052EB01 ,  2G052EB04 ,  2G052EB11 ,  2G052EB13 ,  2G052ED01 ,  2G052GA11 ,  2G052GA17 ,  2G052JA07 ,  2G052JA26 ,  2G059AA05 ,  2G059BB01 ,  2G059BB04 ,  2G059BB12 ,  2G059DD13 ,  2G059DD16 ,  2G059DD18 ,  2G059EE01 ,  2G059EE12 ,  2G059EE15 ,  2G059EE17 ,  2G059GG06 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ05 ,  2G059KK10

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 気体中の微量有機物の分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2000-334110   出願人：栗田工業株式会社