特許
J-GLOBAL ID:200903030500937850

光学的な伝送システムにおける信号品質を求めるために分配関数を測定するための方法および装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 矢野 敏雄 (外4名)
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-610172
公開番号(公開出願番号):特表2002-541465
出願日: 2000年03月01日
公開日(公表日): 2002年12月03日
要約:
【要約】受信される2進信号(BS)は種々異なっているしきい値によって標本化され、標本結果は積分されかつ記憶される。測定された確率分布または確率密度分布から、信号品質、例えばビット誤り率の推定を行いかつシステムを最適化することができる。
請求項(抜粋):
光学的な伝送システムにおける信号品質の測定方法であって、光学的な2進信号を作業チャネルにおいて第1のしきい値(Sw)によって標本化しかつ測定チャネルにおいて付加的に第2のしきい値によって標本化し、それから該標本化された両ビットを比較しかつそこから導出された比較値(VD)を積分する形式の方法において、2進信号(BS)を測定チャネルにおいて複数の測定期間においてその都度、異なったしきい値(Sv)によって標本化し、このようにして得られた比較値(VD)の積分によって求められた比較和値(IW)を記憶しかつ異なったしきい値(Sv)を有する、十分な数の測定期間の後に、比較値(VD)の分布関数V(s)を、可変のしきい値(Sv)の関数として求めることを特徴とする方法。
IPC (2件):
G01M 11/02 ,  H04B 10/00
FI (2件):
G01M 11/02 F ,  H04B 9/00 Z
Fターム (3件):
5K002CA01 ,  5K002DA02 ,  5K002EA06

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