特許

J-GLOBAL ID：200903030502833148

測距装置

発明者： 谷口 英則
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 丸島 儀一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-060307
公開番号（公開出願番号）：特開平6-273163
出願日： 1993年03月19日
公開日（公表日）： 1994年09月30日
要約：

【要約】【目的】 投光にる対象からの反射光を積分し、積分出力に基づき測距情報を得るアクティブ測距装置において、積分回路のオフセット値を簡単にキャンセルすることを可能とする。【構成】 投光を行なうことなしに受光信号を積分しオフセット積分値を得るとともに、投光時の積分値からオフセット積分値を減算する処理回路を設け、オフセット値をキャンセルする。

請求項（抜粋）：

対象に対して投光を行ない、該投光による対象からの反射光を受光素子にて受光し、該受光素子出力を積分回路にて積分し、該積分出力に基づいて測距情報を得る測距装置において、前記投光を行なうことなしに前記受光素子出力を積分回路にて積分させオフセット積分値を得るとともに、前記投光による反射光に対する受光素子出力の積分値から前記オフセット積分値を減算し、該減算値に基づき測距情報を得ることを特徴とする測距装置。

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開平2-258563
  
• 特開昭63-258760
  
• 特開平3-133748