特許
J-GLOBAL ID：200903030529202611
画像測定方法及び画像測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
住吉 多喜男 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-213541
公開番号（公開出願番号）：特開平10-062127
出願日： 1996年08月13日
公開日（公表日）： 1998年03月06日
要約：
【要約】 (修正有)【課題】 画像の細線部の再現性の向上を達成させるため、画像状態、特に線幅および画像の高さを簡単かつ正確に測定することができる画像測定方法、測定装置を提供する。【解決手段】 レーザーフオーカス変位計を内蔵する測定ヘッド200により用紙P上の画像Gを画像幅よりも細かいピッチの光ビームBmで画像幅方向に走査し、各走査点毎の光ビーム状態(ビーム長さ)を測定して、測定結果に基づいて画像の断面プロファイルの描出手段53により断面プロフアイルを描画し、画像の各ピッチごとの高さ、幅を以下の式により算出する。画像高さ=Imax-(Imin+m)、0≦m≦μ-2σ。ここで、Imax:プロファイルの最大値。Imin:プロファイルの最小値。m:画像高さのパラメータ。μ;画像を形成する粉体体積分布からの平均粒径。σ:粉体体積分布を正規分布に当てはめたときの標準偏差。
請求項（抜粋）：
粉体現像剤により可視現像化された画像支持体上の画像を測定する画像測定方法において、画像に対して、光ビームを画像幅より細かいピッチで、画像幅方向に沿って走査し、各走査ピッチ毎に走査点の光ビーム長を測定する画像表面測定工程と、この画像表面測定工程による測定結果に基づいて、走査ピッチ毎の画像の断面プロファイルを描出する断面プロファイル描出工程と、断面プロファイル描出工程で得られた走査ピッチ毎の断面プロファイルから画像高さ、および画像幅を算出する画像算出工程を備えてなる画像測定方法。
IPC (3件)：
G01B 11/02
, G01B 11/24
, H04N 1/00
G01B 11/02 Z
, G01B 11/24 Z
, H04N 1/00 A
