特許
J-GLOBAL ID：200903030533382349
基板の導通検査装置及びその導通検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小谷 悦司 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-351587
公開番号（公開出願番号）：特開2001-165985
出願日： 1999年12月10日
公開日（公表日）： 2001年06月22日
要約：
【要約】【課題】 基板のプリント配線の導通検査を良好に行う。【解決手段】 プリント回路基板11は、表面のプリント配線12と裏面のプリント配線13、プリント配線13と表面のプリント配線15とが、それぞれスルーホール14,16を介して導通するように形成される。プリント配線12の端部121に第1平面電極31を対向配置し、プリント配線12の端部121とスルーホール14との間の部分に第2平面電極32を対向配置する。電圧印加手段51及び正転アンプ52により、経時的にレベルが変化する電気信号をプリント配線15に印加し、同時にこの電気信号とレベル変化が逆位相の電気信号を第2平面電極32に印加して、この印加時に第1平面電極31に生じる電気信号に基づいて導通判定手段60により導通状態の良否を判定する。
請求項（抜粋）：
基板の一方面に形成された第1プリント配線と他方面に形成された第2プリント配線とが上記基板を貫通する第1貫通部を介して導通するように形成され、上記基板の一方面に形成された第3プリント配線と上記第2プリント配線とが上記基板を貫通する第2貫通部を介して導通するように形成された基板において、経時的にレベルが変化する電気信号を上記第3プリント配線に印加する第1信号印加手段と、上記第1プリント配線上の所定領域に対向配置された第1平面電極と、上記第1プリント配線における上記所定領域と上記第1貫通部との間の部分に対向配置された第2平面電極と、上記第1信号印加手段による電気信号に対してレベル変化が逆位相の電気信号を上記第2平面電極に同時に印加する第2信号印加手段と、上記各電気信号の印加時に上記第1平面電極に生じる電気信号に基づいて上記第3プリント配線と上記所定領域との間の導通状態の良否を判定する導通判定手段とを備えたことを特徴とする基板の導通検査装置。
Fターム (5件)：
2G014AA01
, 2G014AA13
, 2G014AB59
, 2G014AC09
, 2G014AC14
