特許
J-GLOBAL ID:200903030614278040

非球面レンズの測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 瀧野 秀雄 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-065606
公開番号(公開出願番号):特開平6-273269
出願日: 1993年03月24日
公開日(公表日): 1994年09月30日
要約:
【要約】【目的】 本発明は、非球面レンズの偏心や外径ふれの測定において、ノイズ等による突発的なデータの乱れを排除して信頼性の高い測定を行う方法を提供することを目的としている。【構成】 被検レンズ1の非球面1bに変位計10を当てて、被検レンズをその光軸回りに回転させる。又は被検レンズの外周に変位計11を当てて、同様に回転する。レンズを回転して、変位計10,11により各測定点の変位量を順次サンプリングする。被検レンズが一回点すると、もとの測定点に戻り、2回目以降の測定になる。そして、たとえば、最初の測定点について、1回目と2回目の二つの変位量の差を求め、この差が所定の誤差範囲であれば、測定が正しいと判断し、所定の誤差を越えていれば、再度測定を行う。
請求項(抜粋):
被検レンズとしての非球面レンズを該レンズの光軸周りに回転し、光軸から離れて設けられた変位計で非球面上の複数の測定点における変位量をサンプリングし、該変位量から非球面軸の偏心量を求める非球面レンズの測定方法において、前記被検レンズを一回以上回転させながら前記複数の測定点における非球面の変位量をサンプリングし、同じ測定点における変位量の差を求め、該差が予め決められた許容値以内であれば正しい変位量であると判断し、許容値を越えていれば変位量が正しくないとして再度サンプリングを行うことを特徴とする非球面レンズの測定方法。
IPC (2件):
G01M 11/00 ,  G01B 11/24
引用特許:
審査官引用 (5件)
  • 特開平1-296132
  • 特開平3-115944
  • 特開平3-037544
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