特許
J-GLOBAL ID：200903030624135492
電流-電圧変換アンプのテスト回路
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高田 守 (外4名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-268926
公開番号（公開出願番号）：特開平8-129046
出願日： 1994年11月01日
公開日（公表日）： 1996年05月21日
要約：
【要約】【目的】 ICのチップ上にフォトダイオードと対になった電流-電圧変換アンプのテスト回路を設け、実際に光照射を行うことなく、電流-電圧変換アンプのテストを行う。【構成】 本発明は第1のNPNトランジスタと第2のNPNトランジスタからなるカレントミラー回路と、テスト電圧を印加するテスト端子とそのテスト端子と第1のNPNトランジスタのコレクタ間に接続された第3の抵抗と、第2のNPNトランジスタのコレクタに接続される電流端子とを有し、テスト端子に印加されるテスト電圧に応じて電流端子に接続された電流-電圧変換アンプから電流を引き込む。
請求項（抜粋）：
第1のNPNトランジスタと第2のNPNトランジスタからなるカレントミラー回路と、テスト電圧を印加する入力端子と前記入力端子と第1のNPNトランジスタのコレクタ間に接続された第3の抵抗と、第2のNPNトランジスタのコレクタに接続される電流端子とを有し、前記入力端子に印加されるテスト電圧に応じて前記の電流端子に接続された被測定回路から電流を引き込むことを特徴とする電流-電圧変換アンプのテスト回路。
IPC (2件)：
前のページに戻る
