特許

J-GLOBAL ID：200903030665592016

暗号回路

発明者： 清水 和也 ,  佐藤 友哉 ,  塩見 謙太郎 ,  根本 祐輔 ,  鳥崎 唯之 ,  藤原 睦
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (2件)： 宮井 暎夫 ,  伊藤 誠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-152852
公開番号（公開出願番号）：特開2005-340892
出願日： 2004年05月24日
公開日（公表日）： 2005年12月08日
要約：

【課題】縮退故障発生の新たな原因となる要素に対応でき、ハードウェアコストを抑え、また暗号処理時間の増大を抑えた故障利用解析の対策を有する暗号回路を提供することを目的とする。 【解決手段】平文および秘密鍵4Aを入力し、秘密鍵4Aから得たR個の部分鍵Knを入力して平文に対してR回繰り返しラウンド演算を実行することにより平文を暗号化する秘密鍵暗号方式の暗号回路であって、平文のラウンド演算後の値を格納するレジスタ4G、4Hと、レジスタ4G、4Hの値より縮退故障の有無を判定する故障検査回路1Aと、その検査結果に縮退故障が存在する場合に秘密鍵4Aを無効化する回路1Bとを備えている。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

暗号化対象および秘密鍵を入力し、前記秘密鍵に対してR回部分鍵演算を実行することによってR個の部分鍵を取得し、前記R個の部分鍵を入力して前記暗号化対象に対してR回繰り返しラウンド演算を実行することにより前記暗号化対象を暗号化する秘密鍵暗号方式の暗号回路であって、 前記暗号化対象の前記ラウンド演算後の値を格納するレジスタと、このレジスタの値により縮退故障の有無を判定する故障検査回路と、前記故障検査回路の検査結果を入力して前記検査結果に前記縮退故障が存在するものである場合に前記秘密鍵を無効化する回路とを備えた暗号回路。

IPC (1件)：

H04L9/10

FI (1件)：

H04L9/00 621Z

Fターム (9件)：

5J104AA16 ,  5J104AA18 ,  5J104AA27 ,  5J104AA41 ,  5J104EA09 ,  5J104JA07 ,  5J104NA37 ,  5J104NA39 ,  5J104NA42

引用特許：

出願人引用 (1件)

• タンパーフリー装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-311924   出願人：株式会社東芝