異常な粒子集団を分析する為の方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (5件)：石田敬 , 鶴田準一 , 福本積 , 西山雅也 , 樋口外治
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-532905
公開番号（公開出願番号）：特表2004-510974
出願日： 2001年09月12日
公開日（公表日）： 2004年04月08日
要約：

粒子分析装置中で、多数の正常試料の平均粒子特性(サイズ等)分布曲線(10)に基づく粒子特性分指数に関連する、粒子を含有する実験試料において異常な粒子集団を解析する為の方法である。前記方法は、機器中で粒子を含有する実験試料を分析することによって実験粒子特性分布曲線を生み出すことを伴う。前記実験試料の分布曲線を解析して、実験分布曲線の上方(14)及び下方(18)の領域で、平均粒子特性分布曲線の前記領域における粒子集団とは異なる粒子集団を同定する。かかる方法の為の計算を行うコンピュータープログラムを用いることができうる又は粒子分析機に一体化できる。本発明の方法、プログラム、及び機器は新規赤血球パラメータを供する。

請求項（抜粋）：

異常な粒子を含有する実験試料中の前記粒子集団を分析する為の方法であって: 粒子分析機中で前記実験試料の粒子特性分布曲線を解析し、ここで、前記粒子分析機はパルス頻度データ及びチャネル体積数の幅として記録される前記粒子の特性の電気パルスデータを提供し、そしてチャネル数に対するパルス頻度のプロットが前記粒子特性分布曲線を生成し、これにより、前記分布曲線の下方又は上方領域における、前記粒子を含む多数の正常試料に基づく平均粒子特性分布曲線の前記と同じ領域における粒子集団から異なる、粒子集団を同定し;そして前記実験分布曲線の下方もしくは上方領域内の粒子の数もしくは百分率を特定して、前記試料の特徴を同定する: 段階を含んで成る方法。

IPC (3件)：

G01N15/02 , G01N15/12 , G01N33/49

FI (5件)：

G01N15/02 D , G01N15/02 A , G01N15/12 J , G01N33/49 E , G01N33/49 Y

Fターム (5件)：

2G045AA01 , 2G045CA01 , 2G045CA25 , 2G045FA11 , 2G045JA01

引用特許：

審査官引用 (5件)

特開昭63-191044
赤血球形態異常の検出方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-114568 出願人：東亞医用電子株式会社
特開昭63-191044

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