特許

J-GLOBAL ID：200903030698161436

光走査装置、それを用いた画像読取り装置及び画像形成装置

発明者： 朴 一武 ,  吉川 智延 ,  山本 義春
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 池内 寛幸 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-287110
公開番号（公開出願番号）：特開平10-133133
出願日： 1996年10月29日
公開日（公表日）： 1998年05月22日
要約：

【要約】【課題】 大型のガラスレンズからなるfθを用いることなく、像面湾曲及びfθ特性を良好に補正し、高解像度が得られ、小型で低コストな光走査装置を提供する。【解決手段】 半導体レーザ1と、半導体レーザ1からの光束を走査するポリゴンミラー5と、半導体レーザ1とポリゴンミラー5との間に配置された第1結像光学系3,4と、ポリゴンミラー5と被走査面9との間に配置された第2結像光学系7,8とを備え、第2結像光学系を、平板回折素子ミラー7と曲面ミラー8の2枚構成とし、曲面ミラー8を鞍型トーリック面とする。

請求項（抜粋）：

光源部と、前記光源部からの光束を走査する光偏向器と、前記光源部と前記光偏光器との間に配置された第1結像光学系と、前記光偏光器と被走査面との間に配置された第2結像光学系とを備え、前記第2結像光学系は、前記光偏光器からの光束を反射する第1のミラーと、前記第1のミラーからの光束を被走査面上に集光する第2の曲面ミラーとを具備し、前記第1のミラーのミラー面が回折素子面である光走査装置。

IPC (6件)：

G02B 26/10 ,  G02B 26/10 103 ,  B41J 2/44 ,  G02B 5/10 ,  G02B 5/18 ,  H04N 1/113

FI (6件)：

G02B 26/10 E ,  G02B 26/10 103 ,  G02B 5/10 A ,  G02B 5/18 ,  B41J 3/00 D ,  H04N 1/04 104 Z