特許
J-GLOBAL ID:200903030712515394

漏洩磁気探傷装置における感度校正装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 矢葺 知之 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-068871
公開番号(公開出願番号):特開平6-281625
出願日: 1993年03月26日
公開日(公表日): 1994年10月07日
要約:
【要約】【目的】 本発明は、磁性金属材料の欠陥を検出する漏洩磁束探傷装置において、容易且つ高精度に感度校正が可能な感度校正装置を提供する。【構成】 磁化器の磁極の下方に磁界補正用磁性金属材料を設けるとともに、磁性金属材料の上部に模擬磁界発生装置を設けて固定し校正用磁界を発生させる。更に、磁界発生装置と模擬磁界発生装置を移動機構により移動させることで複数のセンサに均一な磁界を順次印加する。このことより複数のセンサの感度校正が容易に実現できる。
請求項(抜粋):
磁性金属材料に磁界を加え、磁界を加えたときに欠陥に起因して発生する漏洩磁束を複数の磁気センサによって検出する漏洩磁気探傷装置において、磁性金属材料を磁化する磁化器と、磁化器の磁極部の下方に設けた磁界補正用磁性金属材料と、磁性金属材料の上部に設けた模擬磁界発生装置と、試験片と模擬磁界発生装置を同時に移動させる移動機構からなることを特徴とする漏洩磁気探傷装置の感度校正装置。
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 特開平2-265552

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