特許

J-GLOBAL ID：200903030756145209

テラヘルツ分光光度計

発明者： 伊藤 弘昌 ,  菅原 郷史 ,  陳 キュウ
出願人/特許権者： 伊藤 弘昌
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-135199
公開番号（公開出願番号）：特開2000-321134
出願日： 1999年05月17日
公開日（公表日）： 2000年11月24日
要約：

【要約】【課題】 強いスペクトル強度をもつ波長可変テラヘルツ波光源と、二光束干渉を用いたマーチン-パプレット型フーリエ干渉計を組み合わせることにより、THz領域での分光を、S/N良く測定できる分光光度計を提供する。【解決手段】 非線形結晶LiNbO33をNd:YAGレーザー1で励起することにより発生したTHz波をSiプリズム2を用い空間に放射し軸外し放物面鏡9によりコリメートするTPG光源と、このTHz波をビームスプリッター4により二光束に分割した後、固定鏡M16と可動鏡M27により再び重ねられ干渉させるMP型干渉計、また分光の為の資料が充填されたガスセル10やTHz波を検出する為の4K-Siボロメータ11等、これらを具備したテラヘルツ分光計15を構成した。

請求項（抜粋）：

非線形光学効果であるパラメトリック発生(PG)により得られる波長可変テラヘルツ波(以下テラヘルツパラメトリック発生:TPGと省略)を光源として用いることを特徴とする分光計。

IPC (3件)：

G01J 3/10 ,  G01J 3/26 ,  G02F 1/39

FI (3件)：

G01J 3/10 ,  G01J 3/26 ,  G02F 1/39

Fターム (18件)：

2G020AA02 ,  2G020CA12 ,  2G020CB05 ,  2G020CB14 ,  2G020CB23 ,  2G020CB27 ,  2G020CB46 ,  2G020CC22 ,  2G020CC54 ,  2G020CD04 ,  2G020CD16 ,  2G020CD24 ,  2G020CD35 ,  2G020CD52 ,  2K002AA04 ,  2K002AB12 ,  2K002CA03 ,  2K002HA21