特許
J-GLOBAL ID:200903030775664047

軸受の異常診断装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 青山 葆 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-115005
公開番号(公開出願番号):特開平7-318457
出願日: 1994年05月27日
公開日(公表日): 1995年12月08日
要約:
【要約】【目的】 精度の高い異常診断ができる軸受の異常診断装置を提供する。【構成】 平均振幅算出手段(ステップS9)が算出した周期別の平均振幅と、発生率計算手段(ステップS8)が計算した周期別発生率とを乗算して周期別パワースペクトルを計算するパワースペクトル算出手段(ステップS10)と、周期別パワースペクトルと所定のしきい値とを比較して軸受の異常を診断する比較手段(ステップS13)を備えた。【効果】 AE信号の個数と振幅を異常を診断するためのデータとして取り入れることができる。
請求項(抜粋):
軸受が発生するAEを検出するAEセンサと、上記AEセンサが出力したAE信号を包絡線検波する包絡線検波回路とを備え、上記包絡線検波したAE信号を所定のしきい値と比較して、軸受の異常を診断する軸受の異常診断装置において、所定の期間内に、上記AE信号の個数を周期別に計数する信号数計数手段と、上記所定の期間内に、上記AE信号の振幅を周期別に合算する振幅合算手段と、上記周期別に合算したAE信号の振幅を、上記周期別に計数したAE信号の個数で除算して、上記所定期間内のAE信号の平均振幅を周期別に算出する平均振幅算出手段と、上記周期別に計数したAE信号の個数を、上記所定期間にAE信号の発生ミスがなかったときに計数されるべきAE信号の周期別最大個数で除算して、周期別発生率を計算する発生率計算手段と、上記周期別の平均振幅と、上記発生率計算手段が計算した周期別発生率とを乗算して、周期別パワースペクトルを計算するパワースペクトル算出手段と、上記周期別パワースペクトルと、所定のしきい値とを比較して、軸受の異常を診断する比較手段とを備えたことを特徴とする軸受の異常診断装置。
IPC (2件):
G01M 13/04 ,  G01N 29/14
引用特許:
出願人引用 (5件)
  • 軸受の異常検出装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平3-289828   出願人:光洋精工株式会社
  • 特開昭63-304128
  • 特開平3-120438
全件表示

前のページに戻る